コンパクトな粉末解析装置で効果的なX線回折を
粉末の材質や状態などを解析する際には、その粉末の結晶状態をX線回折で分析することでより高い精度の解析が可能になります。
しかし、これまでのX線回折装置は大型で移動できないタイプの物が多く、その為粉末を装置の所まで持ち歩く間に熱で固化したり、結晶構造が変化してしまうことも有り精確な測定がなかなか行えないこともありました。
この会社ではX線の取り扱いの技術を向上させ解析装置を小型化し、研究室の卓上に接地することなどを想定することで、研究室の中で即座に解析を行うことが出来るようになりました。
その為、粉末の形を崩さず必要な時に測定が行えるため、より精度の高い測定が可能となり材質の研究などに大きく貢献しています。
